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わかりやすい質量分析

バックグランドイオン-1

バックグランドイオン-1

サイエンス出版部 発行書籍

質量分析屋の髙橋です。今回から数回にわたって、LC/MSで頻繁に観測されるバックグランドイオンについて解説します。 最初は、LC/MSに携わる多くの人が知っていると思いますが、フタル酸エステル由来のイオンです。フタル酸エステルは、プラスチックに可塑剤として含まれており、それが移動相溶媒等で微量に溶解されて、正イオン検出でバックグランドイオンとして観測されます。負イオンとして検出される事はありません。代表例は以下です。 ・m/z 391：di-2-ethylhexyl phthalateの[M+H]+ ・m/z 413：di-2-ethylhexyl phthalateの[M+Na]+ ・m/z 279：di-butyl phthalateの[M+H]+ ・m/z 301：di-butyl phthalateの[M+Na]+ 　m/z 279, 301は、m/z 391, 413に比べると、観測される頻度や環境は少ないように思います。また、[M+Na]+はESIでは観測されますが、APCIでは観測されません。 LC/MSにおいては、試料の前処理に使う容器なども含め、周辺にプラスチック製品が多数使われるため、この種のバックグラウンドイオンが観測されるのは避けられないと考えた方が良いです。バックグランドイオンが多数、高強度で観測されると、定性分析ではマススペクトルの解析の妨害になり得るし、定量分析ではS/Nを低下させる原因になるなど、データの質の悪化に繋がります。バックグランドイオンを消す、あるいは強度を低下させることが出来れば、それに越したことはありません。しかし、今回紹介したイオン達は、先ず消える事はないので、むしろ積極的に利用する事をお勧めします。 高分解能のLC/MS装置を使用していれば、観測されているこれらのイオンのm/z値と理論値を比

著者： 髙橋 豊

髙橋 豊

このセクションは、質量分析に関する技術コンサルティングを提供するエムエス・ソリューションズ株式会社 髙橋 豊 氏によるLC-MS講座です。

バイオ研究者向けにLC-MSに関する様々な話題やLC-MSの操作で注意すべき点などを分かりやすくご紹介します。

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【髙橋 豊 氏 ご略歴】
1987年3月　国立群馬工業高等専門学校卒業
1990年3月　群馬大学大学院工学研究科修士課程修了
1990年4月　日本電子株式会社入社　応用研究センターMSG研究員
2002年4月　NEDOマイクロ化学プロセス技術研究組合出向
2005年4月　解出向　同社開発本部研究員
2008年4月　横浜国立大学客員教授（～2009年3月）
2010年6月　日本電子株式会社退職
2010年8月　エムエス・ソリューションズ株式会社設立、代表取締役
2011年4月　横浜市立大学非常勤講師
2019年2月　株式会社プレッパーズ（浜松医科大学発ベンチャー）設立　代表取締役社長

【主な著書】
LC/MS定量分析入門（情報機構）
液クロ虎の巻シリーズ（丸善）
分析試料前処理ハンドブック（丸善）
液クロ実験 How to マニュアル（医学評論社）
LC/MS, LC/MS/MSの基礎と応用（オーム社）
現代質量分析学（化学同人）

【受賞歴】
2004年　日本質量分析学会奨励賞

【資格】
日本分析化学会認証　LC分析士二段、LC/MS分析士五段

【趣味】
トライアスロン、マラソン、ウルトラマラソン、ソフトボール、テニス、スキー（全日本スキー連盟指導員）、サッカー審判員（3級）

【HP】
エムエス・ソリューションズのホームページ
アメブロ

 

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